本昂儀器
賽默飛世爾
安捷倫
沃特世
梅特勒
大連依利特
島津色譜耗材
日本A&D
德國肖特
上海精科
蘭化所
青島海爾
日本三洋
奧豪斯
瑞士步琪
美國哈希
密理博
珀金埃爾默
韓國英麟
奧地利安東帕
美國戴安
WFY-28熒光分光光度計
¥88500.00
能量色散型微區X射線熒光光譜儀 EDX-...
¥0.00
數量:(庫存 100臺)
小計:¥0.00
μEDX系列X射線熒光光譜儀可以高靈敏度地分析很小的樣品。本裝置可進行高靈敏度、高分辨率,分析直徑*小至50μm的分析。
詳細資料
能量色散型微區X射線熒光光譜儀 μEDX系列
技術參數: ●測定原理 X射線熒光分析法 ●測定方法 能量色散型 ●測定對象 固體、液體、粉體 ●樣品形狀 *大150mm× 150mm× 40mmH ●X射線管 Rh靶 ●檢測器 Si(Li)半導體檢測器(μEDX-1200/1300型) Si漂移半導體檢測器(μEDX-1400型) ●測定范圍 13Al ~ 92U (μEDX-1200型) 11Na ~ 92U (μEDX-1300型) 13AL ~ 92U (μEDX-1400型)
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